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    GW-4040型XRF岩屑元素录井仪
    【产品型号】GW-4040

    【工作原理】XRF射线

    【测量范围】0-100%

    【测量精度】0.01%

    【测量元素】Al、Si、P、S、Ca


    产品描述
    GW-4040型石油X射线荧光岩屑录井分析仪是通过对岩屑中化学元素组合特征进行分析来识别岩性,从而判断层位,适用于油气勘探钻井过程中的岩屑分析。
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  • 产品介绍
  • 技术参数
  • GW-4040型石油X射线荧光岩屑录井分析仪是通过对岩屑中化学元素组合特征进行分析来识别岩性,从而判断层位,适用于油气勘探钻井过程中的岩屑分析。
        
    仪器特点:

    ★主机采用数字化面板设计,管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示,可以根据分析元素各类不同软件自动调整参数;
    ★采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,Be(铍)窗厚200μm,靶材Rh(铑靶).真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围;
    ★采用进口高能量分辨率的电致冷Si-PIN半导体探测器,电致冷,无需液氮制冷,使用方便.探测器分辨率优于160eV(55Fe);
    ★专为岩屑分析的设计,压片无需添加任何试剂;
    ★样品腔内一次只放置1个样品,便于岩屑录井依次分析;
    ★样品腔内自动建立真空环境.
     
    技术指标:

    ★高压电源:电压0V-50kV连续可调,电流0-1mA连续可调.数码显示,精度高,无故障操作;
    ★1024道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便地了解样品的组成;
    ★可一次性实现多元素的快速、无损、准确分析;
    ★自动稳谱,消除谱峰水可载舟漂移影响,确保仪器长期稳定;
    ★整体设计合理,性能稳定,运行可靠;
    ★全中文Windows应用软件,操作简单;
    ★分析元素:Na~U,主要有Al、Si、P、S、Ca等探测下限0.01%;Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等探测下限0.001%.
    ★分析范围:1ppm-99.9%;
    ★能量范围:1-30keV
    ★测量时间:<200s;
    ★重复性:<0.1%;
    ★稳定性:<0.01%;
    ★辐射剂量:<25μsv/h